一、電子產(chǎn)品的可靠性試驗(yàn)介紹:
為了評(píng)價(jià)分析電子產(chǎn)品可靠性而進(jìn)行的試驗(yàn)稱為可靠性試驗(yàn)。試驗(yàn)?zāi)康耐ǔS腥缦聨追矫妫?/SPAN>
1 2 3 4 5、為改進(jìn)產(chǎn)品可靠性,制定和改進(jìn)可靠性試驗(yàn)方案 對(duì)于不同的產(chǎn)品,為了達(dá)到不同的目的 1 2、壽命試驗(yàn)是研究產(chǎn)品壽命特征的方法 3 二 1、這種試驗(yàn)不是抽樣的 2、該試驗(yàn)可以提高合格品的總的可靠性水平 3 通常以篩選淘汰率Q和篩選效果β值來(lái)評(píng)價(jià)篩選方法的優(yōu)劣:合理的篩選方法應(yīng)該是β值較大,而Q值適中。 上述各種試驗(yàn)都是通過(guò)模擬現(xiàn)場(chǎng)條件來(lái)進(jìn)行的。模擬試驗(yàn)由于受設(shè)備條件的限制,往往只能對(duì)產(chǎn)品施加單一應(yīng)力,有時(shí)也可以施加雙應(yīng)力,這與實(shí)際使用環(huán)境條件有很大差異,因而未能如實(shí)地、全面地暴露產(chǎn)品的質(zhì)量情況。現(xiàn)場(chǎng)使用試驗(yàn)則不同 鑒定試驗(yàn)是對(duì)產(chǎn)品的可靠性水平進(jìn)行評(píng)價(jià)時(shí)而做的試驗(yàn) 三 電子產(chǎn)品的可靠性試驗(yàn)方法有多種 *種方法是“試驗(yàn)——問(wèn)題記錄——再試驗(yàn)"模式 第二種方法是“試驗(yàn)——改進(jìn)——再試驗(yàn)"模式。該方法就是把初步研制的產(chǎn)品,通過(guò)試驗(yàn),暴露產(chǎn)品的薄弱環(huán)節(jié),分析產(chǎn)品的失效模式和失效機(jī)理,找出問(wèn)題就立即改進(jìn),然后再試驗(yàn)證實(shí)所解決的問(wèn)題,使產(chǎn)品的可靠性得到增長(zhǎng)。這種方法在電子產(chǎn)品的研制階段,通過(guò)系統(tǒng)試驗(yàn),暴露出產(chǎn)品薄弱環(huán)節(jié)之后,根據(jù)具體情況,立即進(jìn)行必要的改進(jìn)是能夠使產(chǎn)品的可靠性有大幅度的增長(zhǎng),這種方法比較適用于試驗(yàn)中只出現(xiàn)一種比較普遍和嚴(yán)重問(wèn)題的情況,針對(duì)性較強(qiáng)。 第三種方法是“含延緩改進(jìn)的試驗(yàn)——改進(jìn)——再試驗(yàn)"模式。該方法是將方法一和方法二結(jié)合起來(lái),通過(guò)試驗(yàn)發(fā)現(xiàn)了產(chǎn)品的問(wèn)題,有些改進(jìn)在試驗(yàn)中了產(chǎn)品的問(wèn)題,有些改進(jìn)在試驗(yàn)中立即著手進(jìn)行,有些延緩到試驗(yàn)結(jié)束后再作改進(jìn)。在試驗(yàn)中,對(duì)能及時(shí)改進(jìn)的問(wèn)題,立即采取措施改進(jìn)產(chǎn)品,提高可靠性,在試驗(yàn)階段結(jié)束后,把延緩的問(wèn)題至下次試驗(yàn)開始前進(jìn)行改進(jìn),然后再進(jìn)行試驗(yàn),使產(chǎn)品的可靠性得到較大的增長(zhǎng) 對(duì)于以上所述的三種方法,電子產(chǎn)品在研制階段中,經(jīng)過(guò)系統(tǒng)的試驗(yàn),要根據(jù)暴露出的問(wèn)題作具體分析,靈活應(yīng)用。可靠性試驗(yàn)中常用的三種方法往往是周而復(fù)始地循環(huán),并且一個(gè)循環(huán)比一個(gè)循環(huán)產(chǎn)品的可靠性水平向上增長(zhǎng),另外可靠性試驗(yàn)除通過(guò)系統(tǒng)試驗(yàn)外,還應(yīng)根據(jù)具體情況通過(guò)氣候環(huán)境試驗(yàn)、機(jī)械環(huán)境試驗(yàn)和人為正常使用等各方面的試驗(yàn)來(lái)暴露產(chǎn)品生產(chǎn)的薄弱環(huán)節(jié),進(jìn)行綜合的科學(xué)分析,做相應(yīng)的改進(jìn),使得電子產(chǎn)品在設(shè)計(jì)研制階段對(duì)其固有可靠性有進(jìn)一步的提高。 四、結(jié)束語(yǔ) 電子產(chǎn)品的可靠性十分重要,是產(chǎn)品質(zhì)量的主要指標(biāo)。我國(guó)電子儀器的可靠性試驗(yàn)遵循的標(biāo)準(zhǔn)是GB11463《電子測(cè)量?jī)x器可靠性試驗(yàn)》,一般產(chǎn)品在鑒定時(shí)的可靠性指標(biāo)是300H,如果按常用的定時(shí)截尾試驗(yàn)方案進(jìn)行可靠性考核,總的試驗(yàn)時(shí)間要達(dá)到10000H左右。由于電子產(chǎn)品在設(shè)計(jì)研制階段經(jīng)歷了反復(fù)多次的“試驗(yàn)——分析——改進(jìn)——再試驗(yàn)"的可靠性增長(zhǎng)試驗(yàn)過(guò)程。在這個(gè)過(guò)程中,由于采取了改進(jìn)設(shè)計(jì)及工藝措施等一系列措施來(lái)消除失效,使失效的發(fā)生逐漸減少,而可靠性得以增長(zhǎng)。我國(guó)的一些電子產(chǎn)品的可靠性指標(biāo)比較先進(jìn)標(biāo)準(zhǔn)還有差距,因此必須對(duì)國(guó)內(nèi)外相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行充分研究,真正從產(chǎn)品方案的論證、設(shè)計(jì)、生產(chǎn)、試驗(yàn)和使用全過(guò)程中對(duì)可靠性水平作出準(zhǔn)確的評(píng)價(jià),從而大大提高我國(guó)電子產(chǎn)品的可靠性水平,使產(chǎn)品質(zhì)量達(dá)到*水平。 全國(guó)統(tǒng)一服務(wù)電話 業(yè)務(wù)咨詢微信公司地址:中國(guó) 上海 青浦區(qū)崧澤大道6688號(hào)